题名:	纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 na mi CMOS ji cheng dian lu zhong de xiao yan chi que xian jian ce / (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel), (印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编 , 续海涛等译
ISBN:	978-7-111-52184-6 价格： CNY59.90
语种:	chi
载体形态:	13, 191页图 24cm
出版发行:	出版地：北京出版社：机械工业出版社出版日期： 2016
内容提要:	本书分时序敏感ATPG、超速、替代方案、SDD的测量标准4个部分，共十章，内容包括小延迟缺陷测试的基本原理、K最长路径、筛选小延迟缺陷的超速测试等。
主题词:	纳米材料 CMOS电路
中图分类法:	TN432 版次： 5
主要责任者:	戈埃尔 ge ai er 主编
主要责任者:	查克拉巴蒂 zha ke la ba di 主编
次要责任者:	续海涛 xu hai tao 译
责任者附注:	Sandeep K. Goel，是一位就职于加利福尼亚州圣何塞的台积电公司（TSMC）的高级主管（DFT/3D测试）。他在荷兰特文特大学获得他的博士学位。在去TSMC公司之前，他在加利福尼亚州的LSI公司、加利福尼亚州的微捷码设计自动化（Magma Design Automation）公司以及荷兰的飞利浦研究中心从事多项研究和管理职位。Goel博士是IEEE 2010年国际测试大会上重要论文奖的获奖者。他是多个会议委员会的成员，包括DATE、ETS、ITC、DATA以及3D Test。他曾经是DATE 2012年3D研讨会的大会主席。他是IEEE的高级会员。
责任者附注:	Krishnendu Chakrabarty，于1990年在克勒格布尔印度理工学院获得学士学位，分别于1992年和1995年在安阿伯市的密歇根大学获得工程硕士和博士学位。他现在是杜克大学电子与计算机工程教授。他也在中国北京的清华大学担任软件理论的首席教授，在中国台湾成功大学担任计算机科学与信息工程学的访问首席教授，并且在德国不莱梅大学担任客座教授。Chakrabarty教授是美国国家科学基金会的早期教师（职业）奖（CAREER）的获得者、海军研究办公室青年科学家奖获得者、洪堡基金会的洪堡研究基金奖获得者以及IEEE会议上多个高水平论文奖获得者。 Chakrabarty教授近期的研究项目包括针对集成电路可测性的测试和设计；数字微流控，生物芯片和网络物理系统；以及数字印制和企业系统的优化。Chakrabarty教授是IEEE会士、IEEE计算机学会的核心会员以及ACM的杰出工程师。他曾经是日本学术振兴会(JSPS)的2009受邀会员。
索书号:	TN432/5017