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题名:
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电子元器件失效分析技术 dian zi yuan qi jian shi xiao fen xi ji shu / 恩云飞，来萍，李少平编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-27230-1 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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19,453页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书共分四篇19章，内容包括：电子元器件失效分析概论、失效分析技术、电子元器件失效分析方法和程序、电子元器件失效预防等。 |
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主题词:
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电子元件 失效分析 |
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主题词:
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电子器件 失效分析 |
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中图分类法:
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TN6 版次： 5 |
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主要责任者:
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恩云飞 en yun fei 编著 |
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主要责任者:
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来萍 lai ping 编著 |
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主要责任者:
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李少平 li shao ping 编著 |
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索书号:
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TN6/6372 |