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题名:
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半导体制造中的质量可靠性与创新 ban dao ti zhi zao zhong de zhi liang ke kao xing yu chuang xin / 简维廷, 郭位, (美)张启华编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-28246-1 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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271页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书主要介绍的是集成电路行业质量与可靠性一些管理的方法和工程的实用技巧。全书共4章。第1章是绪论；第2章主要介绍质量管理与工程及其创新；第3章主要介绍可靠性工程与管理及其创新；第4章则主要是介绍失效分析。其中不乏多个实用案例，对电子制造业中质量与可靠性管理人员，以及负责质量、可靠性和失效分析的人员具有一定的实践指导性，同时对相关行业的科研、生产管理工作人员，以及高等院校相关专业的师生也具有一定的参考价值。 |
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主题词:
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半导体工艺 质量管理 |
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中图分类法:
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TN305 版次： 5 |
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主要责任者:
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简维廷 jian wei ting 编著 |
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主要责任者:
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郭位 guo wei 编著 |
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主要责任者:
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张启华 zhang qi hua 编著 |
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索书号:
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TN305/8212 |