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题名:
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过电应力(EOS)器件、电路与系统 guo dian ying li (eos)qi jian 、dian lu yu xi tong / (美)史蒂文 H.沃尔德曼(Steven H.Voldman)著 , 雷鑑铭等译 |
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ISBN:
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978-7-111-52318-5 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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286页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书系统地介绍了过电应力(EOS)器件、电路与系统设计，并给出了大量实例，将EOS理论工程化。主要内容有EOS基础、EOS现象、EOS成因等。 |
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主题词:
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电子元件 过电流保护 |
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主题词:
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电子元件 过电压保护 |
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主题词:
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电子器件 过电流保护 |
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主题词:
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电子器件 过电压保护 |
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中图分类法:
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TN60 版次： 5 |
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主要责任者:
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沃尔德曼 wo er de man 著 |
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次要责任者:
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雷鑑铭 lei jian ming 译 |
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责任者附注:
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Steven H.Voldman, 博士，由于在CMOS、SOl和SiGe工艺下的静电放电(ESD)保护方面所作出的贡献，而成为了ESD领域的第一位IEEE Fellow。主要致力于半导体器件物理、器件设计和可靠性(如软失效率、热电子、漏电机制、闩锁、ESD和EOS)的研究工作。 |
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索书号:
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TN60/3894 |