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题名:
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公差配合与技术测量 gong chai pei he yu ji shu ce liang / 张淑娟，张瑞珊主编 , |
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ISBN:
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978-7-302-48397-7 价格： CNY30.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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161页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2018 |
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内容提要:
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本书分为六个项目，内容主要包括尺寸公差及配合、几何公差、表面粗糙度和测量、普通计量器具的选择和光滑极限量规、典型零件公差与检测、尺寸链基础。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 高等职业教育 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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主要责任者:
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张淑娟 zhang shu juan 主编 |
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主要责任者:
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张瑞珊 zhang rui shan 主编 |
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附注:
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高职高专机电一体化专业规划教材 |
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索书号:
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TG801/1316 |