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题名:
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半导体器件可靠性 ban dao ti qi jian ke kao xing / 《半导体器件可靠性》编写组编 , |
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ISBN:
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价格： CNY0.94 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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372页 19cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 1978.3 |
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内容提要:
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本书概括地介绍了半导体器件可靠性的基本知识,抽样检验、可靠性试验、数据处理方法及系统可靠性的简要计算方法。 |
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主题词:
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半导体器件 可靠性 |
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中图分类法:
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TN312 版次： 4 |
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主要团体责任者:
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《半导体器件可靠性》编写组 ban dao ti qi jian ke kao xing bian xie zu 编 |