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题名:
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无损检验 wu sun jian yan / 关云隆主编 , |
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ISBN:
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价格： CNY1.70 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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336页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 1973 |
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内容提要:
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探伤技术的进展及其基本工作原理，无损探伤工作的作用，无损探伤技术现状及其未来展望等。 |
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主题词:
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无损检-验辐射探测器 基本知识 |
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中图分类法:
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TL8 版次： 4 |
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主要责任者:
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关云隆 guan yun long 主编 |