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题名:
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集成电路测试技术基础 ji cheng dian lu ce shi ji shu ji chu / 姜岩峰，张晓波，杨兵编 , |
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ISBN:
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978-7-122-02948-5 价格： CNY26.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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170页 图 24cm 1光盘 |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2008 |
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内容提要:
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本书分为三大部分内容，主要介绍了逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、模拟集成电路测试技术等。 |
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主题词:
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集成电路 测试 |
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主题词:
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集成电路 |
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主题词:
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测试 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 4 |
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主要责任者:
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姜岩峰 jiang yan feng 编 |
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主要责任者:
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张晓波 zhang xiao bo 编 |
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主要责任者:
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杨兵 yang bing 编 |