题名:
纳米薄膜分析基础   na mi bao mo fen xi ji chu / 阿尔弗德著 ,
ISBN:
978-7-03-022259-6 价格: CNY68.00
语种:
chi
载体形态:
336页 20cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 科学出版社 出版日期: 2008
内容提要:
本书从原子谱分析、能量损失、电子密度及X射线检测等方面系统地对纳米薄膜进行了阐述。是凝聚态物理、材料物理专业的研究人员和研究生不可多得的一本好书。 
主题词:
纳米材料   薄膜
中图分类法:
TB383 版次: 4
主要责任者:
阿尔弗德 a er fu de 著