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题名:
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集成测试框架 / (美)穆格雷珠(Rick Mugridge)，坎宁安(Ward Cunningham)著 , 吴兰陟译 |
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ISBN:
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978-7-121-04094-8 价格： CNY45.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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355页 图 23cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2007 |
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内容提要:
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本书解释了Fit框架的原理，通过一个虚拟的例子，讲述了如何在敏捷软件开发过程中将Fit应用到各个环节，强调测试先行的重要性。 |
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主题词:
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软件 测试 |
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主题词:
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软件 |
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主题词:
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测试 |
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中图分类法:
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TP311.5 版次： 4 |
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主要责任者:
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穆格雷珠 著 |
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主要责任者:
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Mugridge 著 |
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主要责任者:
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坎宁安 著 |
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主要责任者:
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Cunningham 著 |
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次要责任者:
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吴兰陟 译 |
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责任者附注:
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Rick Mugridge，经营自己的咨询公司Rimu Research，并且是奥克兰大学计算机科学系的副教授。 |
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责任者附注:
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Ward Cunningham，Cunningham & Cunningham,Inc的创始人。 |
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索书号:
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1 |