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题名:
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公差配合与测量技术 / 李坤淑, 杨普国, 钱斌主编 , 孙兆瑞, 房玉胜副主编 |
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ISBN:
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978-7-111-29658-4 价格： CNY21.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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179页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2010 |
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内容提要:
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本书内容：绪论、光滑圆柱结合的极限与配合、测量技术基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 高等教育 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 4 |
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主要责任者:
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李坤淑 主编 |
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主要责任者:
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杨普国 主编 |
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主要责任者:
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钱斌 副主编 |
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次要责任者:
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孙兆瑞 副主编 |
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次要责任者:
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房玉胜 副主编 |
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附注:
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机械设计与制造专业 |
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索书号:
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1 |