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题名:
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集成电路测试指南 Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Zhi Nan / 邬刚，王瑞金，包军林编著 , |
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ISBN:
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978-7-111-68392-6 价格： CNY99.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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13,257页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2021 |
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内容提要:
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本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
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主题词:
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集成电路 电路测试 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 5 |
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主要责任者:
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邬刚 Wu Gang 编著 |
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主要责任者:
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王瑞金 Wang Rui Jin 编著 |
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主要责任者:
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包军林 Bao Jun Lin 编著 |
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索书号:
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TN407/2772 |