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题名:
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模式分类 mo shi fen lei / (美)理查德·O. 杜达(Richard O. Duda), 皮特·E. 哈特(Peter E. Hart), 大卫·G. 斯托克(David G. Stork)著 , 李宏东, 姚天翔等译 |
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ISBN:
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978-7-111-70428-7 价格： CNY149.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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14,530页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书是模式识别和场景分析领域奠基性的经典著作。在第2版中, 除了保留第1版中关于统计模式识别和结构模式识别的主要内容以外, 还新增了许多新理论和新方法, 其中包括神经网络、机器学习、数据挖掘、进化计算、不变量理论、隐马尔可夫模型、统计学习理论和支持向量机等。本书还为模式识别未来的发展指明了方向。 |
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主题词:
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模式分类 |
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中图分类法:
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O235 版次： 5 |
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主要责任者:
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杜达 du da 著 |
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主要责任者:
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哈特 ha te 著 |
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主要责任者:
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斯托克 si tuo ke 著 |
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次要责任者:
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李宏东 li hong dong 译 |
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次要责任者:
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姚天翔 yao tian xiang 译 |
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附注:
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典藏版 |
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责任者附注:
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理查德.O. 杜达(Richard Q. Duda )，圣何塞州立大学电气工程系荣休教授，以其在声音定位和模式识别方面的工作而闻名。美国人工智能学会会士、IEEE会士。拥有麻省理工学院博士学位。 |
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责任者附注:
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皮特·E. 哈特(Peter E. Hart)，加州理光发明(Ricoh Innovations )公司创始人、总裁，在此之前曾任理光加州研究中心高级副总裁。美国人工智能学会会士、IEEE会士，曾获IEEE信息论协会50周年论文奖。 |
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责任者附注:
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大卫·G. 斯托克(David G. Stork)，加州理光发明公司首席科学家，斯坦福大学电气工程与计算机科学系客座教授。国际模式识别学会会士、IEEE会士。拥有马里兰大学博士学位。 |
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索书号:
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O235/4134 |