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题名:
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透射电子显微学 [ 专著] tou she dian zi xian wei xue / David B. Williams，C. Barry Carter著 , 李建奇等译 |
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ISBN:
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978-7-04-052413-0 价格： CNY129.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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1册 照片，图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 高等教育出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书介绍了成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟，还介绍了X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。 |
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主题词:
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透射电子显微术 |
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中图分类法:
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TN16 版次： 5 |
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主要责任者:
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威廉斯 wei lian si 著 |
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主要责任者:
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卡特 ka te 著 |
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次要责任者:
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李建奇 li jian qi 译 |
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附注:
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材料科学经典著作选译 |