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题名:
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应 / (日) Eishi H. Ibe著 , 毕津顺, 马瑶, 王天琦译 |
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ISBN:
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978-7-121-35115-0 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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14, 210页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2019.01 |
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内容提要:
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本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。 |
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主题词:
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集成电路 全球环境 |
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主题词:
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电子系统 全球环境 |
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中图分类法:
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TN45 版次： 5 |
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中图分类法:
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TN103 版次： 5 |
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主要责任者:
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伊部英治 著 |
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次要责任者:
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毕津顺 译 |
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次要责任者:
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马瑶 译 |
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次要责任者:
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王天琦 译 |
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责任者附注:
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责任者规范汉译姓: 伊部英治 |
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索书号:
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1 |