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题名:
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主动红外微电子封装缺陷检测技术 zhu dong hong wai wei dian zi feng zhuang que xian jian ce ji shu / 陆向宁著 , |
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ISBN:
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978-7-121-30709-6 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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156页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2016.12 |
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内容提要:
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陆向宁著主动红外微电子封装缺陷检测技术 |
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主题词:
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微电子技术 |
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中图分类法:
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TN405.94 版次： |
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主要责任者:
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陆向宁 lu xiang ning |