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题名:
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微纳米MOS器件可靠性与失效机理 wei na mi MOS qi jian ke kao xing yu shi xiao ji li / 郝跃，刘红侠著 , |
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ISBN:
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978-7-03-020586-5 价格： CNY78.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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14,446页 图表 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2008.3 |
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内容提要:
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本书全面介绍了微纳米MOS器件失效机理与可靠性理论，目的是为读者在微电子器件可靠性理论和微电子器件的使用之间建立联系，向读者提供一些微纳米MOS器件的主要可靠性问题和相应的解决办法。 |
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主题词:
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纳米材料 微电子技术 |
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主题词:
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纳米材料 |
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主题词:
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微电子技术 |
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主题词:
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电子器件 |
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中图分类法:
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TN4 版次： 4 |
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主要责任者:
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郝跃 hao yue 著 |
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主要责任者:
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刘红侠 liu hong xia 著 |
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附注:
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国家科学技术学术著作出版基金资助出版 |
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索书号:
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TN4/4212 |