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题名:
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半导体材料测试与分析 ban dao ti cai liao ce shi yu fen xi / 杨德仁等著 , |
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ISBN:
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978-7-03-027036-8 价格： CNY78.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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11,381页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2010 |
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内容提要:
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本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。 |
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主题词:
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半导体材料 测试 |
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中图分类法:
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TN304.07 版次： 4 |
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主要责任者:
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杨德仁 yang de ren 著 |
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索书号:
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TN304.07/4221 |