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题名:
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全面的功能验证 quan mian de gong neng yan zheng / (美)怀尔等著 , 沈海华，乐翔译 |
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ISBN:
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978-7-111-29641-6 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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21,487页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2010 |
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内容提要:
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本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念，以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元，关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。 |
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主题词:
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集成电路 芯片 |
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主题词:
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集成电路 |
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主题词:
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芯片 |
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中图分类法:
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TN402 版次： 4 |
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其它题名:
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完整的工业流程 |
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主要责任者:
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怀尔 huai er 等著 |
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次要责任者:
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沈海华 shen hai hua 译 |
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次要责任者:
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乐翔 le xiang 译 |
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附注:
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并列题名：Comprehensive functional verification : the complete industry cycle |
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附注:
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其他题名：完整的工业流程 |
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索书号:
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TN402/9997 |