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题名:
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电阻率测试理论与实践 dian zu lv ce shi li lun yu shi jian / 孙以材等著 , |
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ISBN:
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978-7-5024-5511-8 价格： CNY32.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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307页 21cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 冶金工业出版社 出版日期： 2011 |
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内容提要:
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本书以电阻率测量中广泛使用的探针技术为对象，以作者多年的相应测试实践对电阻率测试中许多理论问题作了深入探讨，具体包括：四探针法电阻率测量基本原理、静电场数值计算有限元方法、范德堡法及其改进法电阻率测量基本原理、鲁美采夫斯基法及其改进法电阻率测量基本原理、电阻率Mapping技术等。 |
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主题词:
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电阻率 测试 |
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中图分类法:
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O441.1 版次： 5 |
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主要责任者:
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孙以材 sun yi cai 等著 |
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索书号:
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O441.1/1074 |