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题名:
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数字集成电路容错设计 shu zi ji cheng dian lu rong cuo she ji / 李晓维等著 , |
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ISBN:
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978-7-03-030576-3 价格： CNY68.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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433页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2011 |
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内容提要:
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本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷（和故障）、容参数偏差以及容软错误；包括3S技术（自测试、自诊断、自修复）的基本原理。 |
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主题词:
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数字集成电路 电路设计 |
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中图分类法:
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TN431.2 版次： 4 |
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其它题名:
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容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误 |
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主要责任者:
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李晓维 li xiao wei 等著 |
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附注:
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中国科学院科学出版基金资助出版 |
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附注:
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其他题名：容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误 |
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索书号:
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TN431.2/4000 |