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题名:
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集成电路可靠性 ji cheng dian lu ke kao xing / 上海冶金研究所编译 , |
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ISBN:
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价格： ￥0.40 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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64页 图表 26cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术情报研究所 出版日期： 1972 |
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主题词:
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集成电路工艺-可靠性试验 |
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主题词:
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可靠性试验-集成电路工艺 |
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中图分类法:
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TN43 版次： 3 |
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附注:
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非正式出版物 |
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主要团体责任者:
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上海冶金研究所 shang hai ye jin yan jiu suo 编译 |
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索书号:
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TN43/1144 |