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题名:
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无损检验 wu sun jian yan / (美)H. 伯杰著 , 张斌译 |
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ISBN:
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价格： ￥0.17 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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36页 19cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 原子能出版社 出版日期： 1980 |
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主题词:
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辐射探测器-无损检验 基本知识 |
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主题词:
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无损检验-辐射探测器 基本知识 |
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中图分类法:
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TL8 版次： 3 |
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主要责任者:
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伯杰 bo jie 著 |
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次要责任者:
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张斌 zhang bin 译 |
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附注:
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本书共七章 |
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索书号:
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TL8/2030 |