题名:	微特电机测试技术 wei te dian ji ce shi ji shu / 陈忠, 许上明编著 ,
ISBN:	价格：￥1.25
语种:	chi
载体形态:	201页 19cm
出版发行:	出版地：上海出版社：上海科学技术出版社出版日期： 1986
主题词:	微电机测试
中图分类法:	TM38 版次： 3
主要责任者:	陈忠 chen zhong 编著
主要责任者:	许上明 xu shang ming 编著
索书号:	TM38/7930