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题名:
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电子元器件可靠性试验工程 dian zi yuan qi jian ke kao xing shi yan gong cheng / 罗雯等编著 , |
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ISBN:
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7-121-00965-X 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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14,350页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2005 |
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内容提要:
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本书包括了电子元器件可靠性试验的各主要类别：环境试验、寿命试验和加速寿命试验、鉴定试验、极限应力试验、可靠性增长试验等。 |
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主题词:
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电子元件 可靠性试验 |
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主题词:
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电子元件 |
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主题词:
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可靠性试验 |
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中图分类法:
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TN6-33 版次： 4 |
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主要责任者:
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罗雯 luo wen 编著 |
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索书号:
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TN6-33/6040 |