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题名:
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分析晶体缺陷的电子显微术 fen xi jing ti que xian de dian zi xian wei shu / (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 , 康振川,王桂金译 |
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ISBN:
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价格： ￥0.46 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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111页 20cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： 1979 |
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主题词:
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晶体缺陷-分析-电子显微术 |
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主题词:
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电子显微术-晶体缺陷-分析 |
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中图分类法:
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TN153 版次： 3 |
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主要责任者:
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洛雷托 luo lei tuo 著 |
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主要责任者:
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斯莫尔曼 si mo er man 著 |
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次要责任者:
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康振川 kang zhen chuan 译 |
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次要责任者:
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王桂金 wang gui jin 译 |
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索书号:
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TN153/3662 |