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题名:
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半导体器件及电路的可靠性与退化 ban dao ti qi jian ji dian lu de ke kao xing yu tui hua / (英)豪斯(M.J.Howes),(英)摩根(D.V.Morgan)主编 , 李锦林等译 |
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ISBN:
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7-03-001164-3 价格： ￥16.40 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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463页 20cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 1989 |
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主题词:
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半导体器件-电子产品可靠性 |
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主题词:
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电子产品可靠性-半导体器件 |
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主题词:
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电路可靠性 |
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中图分类法:
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TN303 版次： 3 |
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主要责任者:
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豪斯 hao si 主编 |
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主要责任者:
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摩根 mo gen 主编 |
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次要责任者:
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李锦林 li jin lin 译 |
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附注:
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书名原文:Reliability and degradation semiconductor devices and circuits |
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附注:
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并列题名：Reliability and degradation semiconductor devices and circuits |
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索书号:
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TN303/0382 |