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题名:
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国外测试新技术 guo wai ce shi xin ji shu / 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 , |
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ISBN:
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价格： ￥1.50 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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191页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术情报研究所 出版日期： 1974 |
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主题词:
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半导体技术 测量 外国 |
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中图分类法:
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TG111.2 版次： 3 |
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附注:
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非正式出版物 |
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主要团体责任者:
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中国科学院上海冶金研究所X射线实验室 zhong guo ke xue yuan shang hai ye jin yan jiu suo X she xian shi yan shi 译 |
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索书号:
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TG111.2/3870 |