|
题名:
|
半导体的检测与分析 ban dao ti de jian ce yu fen xi / 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著 , |
|
ISBN:
|
价格： ￥3.70 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
636页 19cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 1984 |
|
主题词:
|
半导体材料 检测 |
|
中图分类法:
|
TN304.07 版次： 3 |
|
主要团体责任者:
|
中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室 zhong guo ke xue yuan ban dao ti yan jiu suo li hua fen xi zhong xin yan jiu shi 著 |
|
索书号:
|
TN304.07/3400 |