|
题名:
|
国外集成电路测试自动化 guo wai ji cheng dian lu ce shi zi dong hua / 上海科学技术情报研究所编辑 , |
|
ISBN:
|
价格： ￥0.60 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
74页 26cm |
|
出版发行:
|
出版地： 上海 出版社： 上海科学技术情报研究所 出版日期： 1977 |
|
主题词:
|
集成电路工艺-自动测试设备 |
|
主题词:
|
自动测试设备-集成电路工艺 |
|
中图分类法:
|
TN407 版次： 3 |
|
中图分类法:
|
TN305 版次： |
|
附注:
|
半导体器件生产自动化专辑 |
|
主要团体责任者:
|
上海科学技术情报研究所 shang hai ke xue ji shu qing bao yan jiu suo 编辑 |
|
索书号:
|
TN305/1000 |