|
题名:
|
测试 ce shi / 《半导体器件制造技术丛书》编写组编 , |
|
ISBN:
|
价格： ￥0.95 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
350页 图表 19cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 1972 |
|
主题词:
|
半导体技术-测试 |
|
主题词:
|
测试-半导体技术 |
|
中图分类法:
|
TN307 版次： 3 |
|
中图分类法:
|
TN305 版次： |
|
主要团体责任者:
|
半导体器件制造技术丛书编写组 ban dao ti qi jian zhi zao ji shu cong shu bian xie zu 编 |
|
索书号:
|
TN305/2220:11 |