|
题名:
|
半导体器件可靠性与失效分析 ban dao ti qi jian ke kao xing yu shi xiao fen xi / 卢其庆,张安康编 , |
|
ISBN:
|
价格： ￥1.70 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
278页 25cm |
|
出版发行:
|
出版地： 南京 出版社： 江苏科学技术出版社 出版日期： 1981 |
|
主题词:
|
半导体器件-可靠性 分析 |
|
主题词:
|
可靠性-半导体器件 分析 |
|
主题词:
|
半导体器件-失效分析 |
|
主题词:
|
失效分析-半导体器件 |
|
中图分类法:
|
TN306 版次： 3 |
|
主要责任者:
|
卢其庆 lu qi qing 编 |
|
主要责任者:
|
张安康 zhang an kang 编 |
|
索书号:
|
TN306/2080 |