题名:	微电子测试结构 wei dian zi ce shi jie gou / 孙为编 ,
ISBN:	价格：￥1.00
语种:	chi
载体形态:	177页 21cm
出版发行:	出版地：上海出版社：华东师范大学出版社出版日期： 1984
主题词:	微电子技术测试
中图分类法:	TN407 版次： 3
主要责任者:	孙为 sun wei 编
索书号:	TN407/1014