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题名:
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半导体器件和集成电路的辐射效应 ban dao ti qi jian he ji cheng dian lu de fu she xiao ying / 陈盘训著 , |
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ISBN:
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7-118-03761-3 价格： CNY40.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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26,400页 21cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2005 |
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内容提要:
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本书较为全面地介绍了各类典型半导体器件和集成电路在核辐射和空间辐射环境下的损伤机理和效应。 |
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主题词:
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半导体器件 辐射效应 |
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主题词:
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集成电路 辐射效应 |
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主题词:
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半导体器件 |
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主题词:
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集成电路 |
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主题词:
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辐射效应 |
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中图分类法:
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TL7 版次： 4 |
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主要责任者:
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陈盘训 chen pan xun 著 |
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附注:
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并列题名：Radiation effects on semiconductor devices and integrated circuits |
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索书号:
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TL7/7912 |