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题名:
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光电测试技术 guang dian ce shi ji shu / 浦昭邦主编 , 赵辉副主编 |
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ISBN:
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7-111-15348-0 价格： CNY28.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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299页 图表 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2005 |
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内容提要:
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本书阐述了光度学的基本理论，深入地讲述了光电测试技术中的光源、光电变换和光学变换的基本原理和方法，以及常用光电测量系统的原理和设计方法，最后介绍了应用最广泛的几种现代光电测量系统。 |
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主题词:
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光电子技术 测试技术 |
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主题词:
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光电子技术 |
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主题词:
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测试技术 |
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中图分类法:
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TN206-43 版次： 4 |
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主要责任者:
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浦昭邦 pu zhao bang 主编 |
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次要责任者:
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赵辉 zhao hui 副主编 |
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附注:
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并列题名：Photoelectric measuring and testing technique |
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索书号:
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TN206-43/3207 |