检索条件： 半导体器件可靠性 ( 题名 )
责任者 《半导体器件可靠性》编写组编
出版信息 国防工业出版社
ISBN 510681Z036316
扫二维码，手机查看
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。
半导体器件可靠性
《半导体器件可靠性》编写组编.国防工业出版社,.
ISBN 510681Z051430
出版信息 国防工业出版社 ,1978
ISBN
《半导体器件可靠性》编写组编.国防工业出版社,1978.
责任者 《半导体器件可靠性》编写组
出版信息 国防工业出版社 ,1978.3
《半导体器件可靠性》编写组.国防工业出版社,1978.3.
责任者 卢其庆,张安康
出版信息 江苏科学技术出版社 ,1981
半导体器件可靠性与失效分析
卢其庆,张安康.江苏科学技术出版社,1981.
责任者 菅沼克昭
出版信息 机械工业出版社 ,2021
ISBN 978-7-111-66953-1
SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
菅沼克昭.机械工业出版社,2021.
责任者 第四机械工业部标准化研究所
出版信息 第四机械工业部标准化研究所 ,1980
国外电子工业标准资料．第51辑，半导体器件可靠性技术标准选编
第四机械工业部标准化研究所.第四机械工业部标准化研究所,1980.
预借图书
加入成功
您可到个人图书馆查看或取消预约
预约图书
您可在“我的图书馆→我的预约”菜单里查看预约记录
没有可借图书，您可对该书进行预约，等书还回后会按照预约顺序分配给您
