检索条件： 电子技术-可靠性理论 ( 主题词 )

检索结果共有3条

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1 图书可靠性技术：试验与分析
责任者〓见弘

出版信息国防工业出版社 ,1983

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〓见弘.可靠性技术：试验与分析.国防工业出版社,1983.
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可靠性技术：试验与分析

〓见弘.国防工业出版社,1983.
2 图书微纳米MOS器件可靠性与失效机理
责任者郝跃,刘红侠

出版信息科学出版社 ,2008.3

ISBN 978-7-03-020586-5

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郝跃,刘红侠.微纳米MOS器件可靠性与失效机理.科学出版社,2008.3.
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http://opac.cdclib.cn:80/opac/book/1087599
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微纳米MOS器件可靠性与失效机理

郝跃,刘红侠.科学出版社,2008.3.
3 图书微纳米MOS器件可靠性与失效机理
责任者郝跃,刘红侠

出版信息科学出版社 ,2008

ISBN 978-7-03-020586-5

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郝跃,刘红侠.微纳米MOS器件可靠性与失效机理.科学出版社,2008.
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http://opac.cdclib.cn:80/opac/book/1002345492
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微纳米MOS器件可靠性与失效机理

郝跃,刘红侠.科学出版社,2008.

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